Cryogenic Characterization and Compact Modeling of Forward Body-Bias Effects in 180 nm Bulk CMOS Transistors
Z. Liang, S. Taniguchi, H. Takayama, M. Shintani
モデリング
IEEE 38th International System-on-Chip Conference (SOCC) 2025
極低温環境下における順方向基板バイアス対応スタンダードセルライブラリの生成とRISCプロセッサによる性能評価
S. Taniguchi, Z. Liang, H. Takayama, J. Shiomi, M. Shintani
回路設計
信学技報, vol. 125, no. 260, VLD2025-26 2025